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精密电子分析天平DV215CD
Discovery专业型分析天平技术参数:1. 全自动内校Auto2. 标配RS232接口3. 最高可读数据0.01mg,最大量程210g4. 双量程天平,瑞士进口原装5. 重复性偏差
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分析天平
2.符合GLP/GMP规范的打印设定和数据输出:包括时间、日期、天平标识、操作员标识、项目标识、校准结果和签名栏等信息技术参数:DV215CD分析天平 型号 量程 可读性 DV215CD 双
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岛津天平 分析天平AUX220
技术参数:称重能力:220g最小显示值:0.1mg标准偏差:≤0.1mg线性:±0.2mg响应时间:3秒校正砝码:机内环境温度:5-40℃灵敏度温度(10-30℃):±2ppm/℃(PSC位于OFF
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天平瑞士XP/XS系列精密/电子天平梅特勒托利多 可检测天平
的、可追溯的称量信息; GWPExcellenceTM一体化安全功能,确保天平始终正确工作; *仅XP天平 技术参数: XP精密天平:量程210g~64100g,可读性
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天平 分析天平AUX220 AUX220
技术参数:称重能力:220g最小显示值:0.1mg标准偏差:≤0.1mg线性:±0.2mg响应时间:3秒校正砝码:机内环境温度:5-40℃灵敏度温度(10-30℃):±2ppm/℃(PSC位于OFF
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梅特勒托利多瑞士XP/XS系列微量/超微量天平天平 可检测天平
、更有趣味。 技术参数: XP超微量/微量天平:量程2.1g~22g,可读性0.001mg~0.01mg 功能和特点: 称量性能:该系列微量天平可以提供现有分析天平具有
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天平瑞士XP/XS系列微量/超微量天平梅特勒托利多 可检测天平
防风罩控制功能使得该系列高精度天平称量更快速、操作更简便、更有趣味。 技术参数: XP超微量/微量天平:量程2.1g~22g,可读性0.001mg~0.01mg 功能和特点
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瑞士XP/XS系列微量/超微量天平天平梅特勒托利多 可检测天平
用户操作指导以及无需用手接触的红外防风罩控制功能使得该系列高精度天平称量更快速、操作更简便、更有趣味。 技术参数: XP超微量/微量天平:量程2.1g~22g,可读性0.001mg
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天平梅特勒托利多XPR系列 适用于 水分、色度、pH、量热分析、结晶过程、在线动力学参数、热性能
梅特勒托利多瑞士分析天平XPR系列可用于测定 纺织原料 ,适用于 水分、色度、pH、量热分析、结晶过程、在线动力学参数、热性能 项目。并且参考多项行业标准/ VBA。可应用于纺织/印染行业领域。 在
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OHAUS奥豪斯DV215CD专业型分析天平
OHAUS奥豪斯DV215CD专业型分析天平优越的性能:1.重复性、线性等性能优于大多数其他品牌的同等级产品2.防静电玻璃及全钢材质外壳,为DV天平提供了更好的防静电及耐腐蚀保护,提升了天平的精度
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